SENTECH Instruments GmbH

Dafür sind genaue und zuverlässige Messverfahren und -technologien nötig. Die sollen aber andererseits nicht langwierig und umständlich oder nur durch hoch spezialisiertes Fachpersonal durchzuführen sein. Mit ihrer Innovation „Spektroskopisches Ellipsometer SENperc PV für die Qualitätskontrolle in der Solarzellenproduktion“ hat die SENTECH Instruments GmbH eine exakte und wirtschaftliche Lösung.

Für das neue Instrument SENperc PV hat das Unternehmen die Messmethodik gewissermaßen auf den Kopf gestellt. Das Messgerät basiert auf einem spektroskopischen Ellipsometer und misst mithilfe von polarisiertem Licht Schichtdicke sowie Brechungsindex. Das Problem bei der Qualitätskontrolle der Mehrschichtzellen ist, dass die Schichten mit deutlich unter 1% eine extrem geringe Reflektivität haben. Es braucht also eine sehr starke Lichtquelle, zusätzliche Sammeloptiken und einen sehr sensiblen Detektor, damit das Licht, das von den Schichten sehr schwach reflektiert wird, auch wieder „eingefangen“ werden kann. Zudem muss Umgebungslicht möglichst eliminiert werden. Daher wurde die gesamte Messbox umgedreht und hat nun an der Oberseite einen schmalen (abdeckbaren) Probeschlitz. Auf den werden die Mehrschichtzellen gelegt und gemessen. Eine eigens entwickelte Spezialsoftware bringt das Ganze zum Laufen und garantiert zuverlässige Messergebnisse.

Für eine grundlegende Komponente der Gesamtlösung wurde ein Patent angemeldet. Ein erster Prototyp des SENperc PV ist bereits bei einem Solarzellenhersteller im Probebetrieb. Mit Hilfe der Innovation kann das Unternehmen seine bisher 60 Arbeitsplätze sichern und plant in den kommenden Jahren die Schaffung fünf neuer Arbeitsplätze.